瓦楞紙板厚度是指瓦楞紙板試樣在規定的壓力下,在厚度測定儀兩平行面之間測量的距離,其測定按照GB/T 6547——1998《瓦楞紙板厚度的測定法》進(jìn)行。
瓦楞紙板厚度直接影響瓦楞紙板的邊壓強度、戳穿強度和抗壓強度及抗彎挺度等物理性能。瓦楞紙板厚度取決于面紙、里紙與芯紙的厚度、楞高,也跟瓦楞輥磨損量、加工和印刷工藝等諸多因素有關(guān)。由于瓦楞輥磨損、塌楞、歪楞、楞高不齊以及裱糊、特別是印刷過(guò)程加壓等造成的楞高損失,會(huì )影響到紙箱的承壓能力,進(jìn)而在產(chǎn)品堆碼過(guò)程中容易出現倒垛、塌垛、散包等質(zhì)量問(wèn)題。
瓦楞紙板厚度測量受到測量頭面積、壓力、下壓速度以及讀表時(shí)間等因素影響,厚度隨著(zhù)測量頭面積的增大而變大;隨著(zhù)壓力的增大而變小,并趨于一定值;測量時(shí)間越長(cháng),厚度越小。瓦楞紙板厚度測定儀應滿(mǎn)足如下三個(gè)參數:
(1) 接觸壓力:(20±0.5)kPa;
(2) 接觸面積:(10±0.2)cm2;
(3) 測量頭下降速度:(2~3)mm/min。
瓦楞紙板的國標GB/T 6544-2008《瓦楞紙板》規定瓦楞紙板的厚度:?jiǎn)瓮呃慵埌搴穸葢哂诒?規定相應楞高的下限值;多層瓦楞紙板厚度應高于表1所規定相應楞高的下限值之和。
表1
瓦楞紙板的厚度按GB/T 6547-1998《瓦楞紙板厚度的測定法》進(jìn)行測定。
1、 測試儀器及方法標準
GB/T 6547、ISO3034
2、 測試目的
瓦楞紙板在制成紙箱的加工過(guò)程中,瓦楞高度會(huì )有所損失的,例如經(jīng)過(guò)模切、壓痕分切、開(kāi)槽、印刷等生產(chǎn)工藝,都會(huì )大大地降低其厚度,破壞瓦楞的結構及承壓能力,直接導致紙箱的抗壓強度下降,因此瓦楞紙板的厚度控制成為紙板生產(chǎn)過(guò)程中非常重要的工作。
3、 測試原理和設備結構
測試原理可簡(jiǎn)述為:瓦楞紙板試樣在規定的壓力下,兩平行面之間的距離,單位為mm。
本儀器由機械傳動(dòng)、硬件電路、傳感器、顯示屏及智能測量控制等部件組成。本儀器(以PN-PT20F智能機型為例)外形結構如圖1所示。
1-測量頭 2-量砧 3-打印機 4-顯示屏 5-電源插座 6-開(kāi)關(guān) 7-天線(xiàn) 8-串口
圖1 瓦楞紙板厚度測定儀結構示意圖
1、 試樣的采取、處理及試樣的準備
按照國標GB/T 450和GB/T 10739進(jìn)行試樣的采取和處理。
選擇足夠大的待測瓦楞紙板,切取面積為500cm2(200mm×250mm)的試樣,以保證讀取10個(gè)有效的數據。不得從同一張樣品上切取多于2個(gè)試樣,試樣上不得有損壞或其他不合規定之處,除非有關(guān)方同意,否則不得有機加工的痕跡。
2、 實(shí)驗步驟及方法
在規定的大氣條件下進(jìn)行測試,每個(gè)試樣在不同的點(diǎn)測量?jì)纱巍?/p>
將試樣水平放入儀器測量頭和量鉆兩平面之間,試樣的邊緣與圓形底盤(pán)邊緣之間的最小距離不小于50mm。測量時(shí)應輕輕地以2~3mm/min的速度將上測量頭壓在試樣上,以避免產(chǎn)生沖擊影響測量結果,并保證樣品表面與厚度儀測量平面的平行。
當示值穩定并且在紙板被“壓陷”下去前讀數。讀數時(shí)不許將手壓在儀器上和樣品上。重復上述步驟測試其余的四個(gè)試樣。
圖3 瓦楞紙板厚度測試設備
1、 結果計算分析
計算不少于10個(gè)試樣的平均值和標準偏差,以mm表示。
2、 可能的錯誤操作及誤差來(lái)源
7.1 可能的錯誤操作
7.1.1 開(kāi)機直接測。
本儀器屬于精密電子儀器,測量前要預熱30min以上,使內部電子器件達到熱穩定平衡。
7.1.2 不清潔測量面,直接測。
少量塵埃一開(kāi)始可能不會(huì )影響讀數,但累積到一定程度就造成測試結果不準確。如果測量面上有灰塵,進(jìn)行清零,否則將會(huì )造成測量結果偏低,一個(gè)灰塵的零點(diǎn)偏移可達到5微米,所以測量面一定要保持清潔。
7.1.3 用游標卡尺直接測量瓦楞紙板的縱切邊來(lái)判斷厚度
由于瓦楞紙板生產(chǎn)線(xiàn)在縱切時(shí),薄刀縱切有一定的壓力,瓦楞紙板的縱切邊一般會(huì )有壓塌,這樣測定時(shí)數值會(huì )偏低。其實(shí)在進(jìn)行厚度測定時(shí)是在標準壓力和測量面積下測定的,并且要選擇多點(diǎn)接觸測定取平均值。
7.2 主要誤差來(lái)源
壓力測量系統校準不準確。本儀器為高精密電子產(chǎn)品,使用一段時(shí)間后,因為測量頭上下導向機構的摩擦阻力變化影響壓力大小,同時(shí)電子元器件及傳感器具的性能變化,測試準確度有一定要漂移,從而會(huì )影響測試結果,要定期對儀器進(jìn)行維護及校準。
本論于2023年5月發(fā)表于《紙箱世界》雜志